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M5型全譜直讀光譜儀采用標準的設計和制造工藝技術，全數字化及互聯網技術結合，運用高分辯率CMOS檢測器，精密設計的氬氣吹掃系統，使儀器具有較高的性能、較低的成本以及極具競爭力的價格。

一、技術配置

二、儀器技術特點

2.1 光學系統

帕型-龍格結構的全譜光學系統

波長覆蓋范圍寬

多個高性能CMOS探測器

一體化光學室加工成型，耐環境溫度變化

精密設計的氬氣吹掃系統，保證C、S、P都能達到性能。

光室恒溫控制，恒溫溫度為34±0.3℃；

2.2 樣品激發臺

集成氣路、噴射電極技術；

優化的氬氣氣路設計保證激發臺的有效冷卻和激發過程中產生的金屬粉塵有效進入過濾器；使樣品激發更加穩定，并大大減少了人體對金屬粉塵的攝入，有利于保護操作人員的健康安全；

更小的激發空間，使氬氣消耗更小；

便于使用的樣品夾具

具有電極自吹掃功能，使電極使用壽命更長、清潔電極更加容易

開放式樣品激發臺可適應各種大小、更多形狀樣品的分析（含線材）；

拔插式透鏡裝置設計，一般人員都能方便對激發臺進行維護和透鏡的清洗

2.3 激發光源

全新可調節數字化光源，頻率可達1000Hz；

高能預然技術（HEPS）；

優化設計的控制和功率電路，完善的激發安全保護功能

為不同分析目標提供火花、電弧或組合激發波形

放電電流：400 A

2.4數據采集系統

高性能ARM數據處理器，具有超高速數據采集及控制功能

高性能多CMOS檢測技術，波段內的譜線全譜接收；

外置式計算機（用戶自選）

FPGA及高速數據通訊技術，數據讀入功能強大，檢測數據整體讀入時間短

2.5分析軟件

基于Windows系統的多國語言的CMOS全譜圖形化分析軟件，方便實用

理的控制整個測量過程及為用戶提供強大的數據處理能力和測試報告輸出能力

儀器可配置多條工廠校正曲線及更多材質分析及先進解決方案

軟件實現全譜檢測、智能扣干擾、扣暗電流、背景和噪聲的算法，提高儀器的分析能力

完備的自動系統診斷功能

完善的數據庫管理功能，可方便查詢、匯總數據

智能校正算法，保證儀器穩定可靠

完備的譜線信息和干擾扣除算法，保證儀器分析更為精準

適應的Windows操作系統

能夠自動完成數據采集、處理、生成office辦公軟件能接受的數據格式